激光粒度儀超細粉體分析方法對比及優(yōu)缺點介紹

粒度是粉體物料的重要特性之一，在粉碎工程的研究以及粉體產(chǎn)品的生產(chǎn)中，常常用到諸如物料的平均粒度、粒度組成和粒度分布等數(shù)據(jù)。這些數(shù)據(jù)就是通過各種粒度測定方法得到的。

　　(1) 篩分分析方法

　　*簡單的也是應(yīng)用*早的粒度分析方法是篩分法。但是，由于現(xiàn)今的標(biāo)準篩(如泰勒標(biāo)準篩)*細一般只到400目(相當(dāng)于38μm)，因此，對于小于10μm的超細粉體來說，不可能用標(biāo)準篩進行粒度分析和檢測。雖然新發(fā)展的電沉積篩網(wǎng)可以篩分小至5μm的粉體物料，但這種篩分技術(shù)由于篩分時間長和經(jīng)常發(fā)生堵塞，很少在分析中使用。

　　篩分分析是利用篩孔大小不同的一套篩子進行粒度分級。對于粒度小于100mm而大于0.038mm的松散物料，一般用篩分法測定其粒度組成和粒度分布。

　　篩分分析采用的套篩一般有兩種：一種為非標(biāo)準篩，實驗室可以自己制造，用于篩分粗粒物料。篩孔大小一般為150、120、100、80、70、50、25、15、12、6、3、2、1mm等，根據(jù)需要確定。另一種為標(biāo)準套篩，用于篩分細粒物料，標(biāo)準套篩是由一套篩孔大小有一定比例的、篩孔寬度和篩絲直徑都是按標(biāo)準制造的篩子組。上層篩子的篩孔大，下層篩子的篩孔小，另外還有一個上蓋(防止試樣在篩分的過程中損失)和篩底(用來直接接取**層篩子的篩下產(chǎn)物)。

　　將標(biāo)準篩按篩孔由大到小，從上到下排列起來，各個篩子所處的層位叫篩序;在疊好的篩序中，每兩個相鄰的篩孔尺寸之比叫篩比。有些標(biāo)準篩有一個作為基準的篩子叫基篩，如泰勒標(biāo)準篩以200目篩子作為基篩。表1所列為幾種常見的標(biāo)準篩。

　　粒度范圍為6mm至0.038mm的物料的篩分分析，常用實驗室標(biāo)準套篩進行，可以用干法，也可以用濕法。如果對篩析的**度要求不甚嚴格，通常直接進行干法篩析。但如果試樣含水、含泥較多，物料互相粘結(jié)時，應(yīng)采用干濕聯(lián)合篩析法，篩析得到的結(jié)果才比較**。

　　(2) 其它粒度分析方法

　　當(dāng)今用于超細粉體粒度檢測的主要方法的沉降法(包括重力沉降和離心沉降)、激光粒度分析儀、顯微鏡、庫爾特計數(shù)器以及用于測定比表面積的透過法和BET法。表2所列為這些方法的基本原理、測定范圍及其主要特點。