粒度儀分類介紹

激光粒度儀

　　使用MIE散射原理的激光粒度儀假設(shè)測量的粒子是標準球體，不能測量粒子形態(tài)，大部分是離線粒度儀。

　　采用MIE散射原理的激光粒子系統(tǒng)由**開發(fā)的集中傅里葉變換光路和**自由擬合數(shù)據(jù)處理軟件組成，可檢測粒子大小和分布，涵蓋毫米、微米、微米和納米多波段。

　　用于測試粒子大小和分布的分布系統(tǒng)根據(jù)不同的測試要求分為濕分布系統(tǒng)、干分布系統(tǒng)和濕干綜合分布系統(tǒng)。

　　散射、衍射是在光線照射到粒子上時發(fā)生的，其衍射和散射光強度都與粒子的大小有關(guān)。觀察光的強度，應(yīng)用Fraunhofer衍射理論和Mie散射理論，得出粒子直徑分布(激光衍射/散射法)，并用Mie散射理論計算。當燈光進入球形粒子時，會生成三種類型的燈光。**類是通過粒子曲面、粒子內(nèi)部和粒子內(nèi)部曲面的反射光。**種類型是通過粒子內(nèi)部折射的光。第三類是表面的衍射光。這些現(xiàn)象與粒子的大小無關(guān)，都可以用散射光處理。

　　一般來說，激光粒度儀光散射現(xiàn)象可以通過Maxwell電磁方程用嚴格解的Mie散射理論來解釋。但是實際使用太復(fù)雜，為了獲得實際光的強度，可以基于入射波長和粒子半徑R的關(guān)系，即R小于時的Rayleigh散射理論。當r大于時，F(xiàn)raunhofer衍射理論。使用上述理論時，考慮到光的波長和粒子直徑的關(guān)系，不同領(lǐng)域要使用不同的理論。

　　粒子大小大于波長時，由Fraunhofer衍射理論得到的衍射光強與Mie散射理論得到的散射光強度大體一致。因此，可以用Fraunhofer衍射理論作為Mie散射理論的近似值。這時光散射(衍射)的方向幾乎集中在前方，其強度與粒子直徑的大小有關(guān)，有很大的變化。也就是說，它表示粒子直徑的**光強譜，通過求解粒子的光強分布(散射譜)可以確定粒子直徑。波長接近粒子直徑時，不能用Fraunhofer的近似值來表示散射強度。這時有必要根據(jù)Mie散射理論進一步討論。Mie散射中的散射光強度由入射光波長、粒子直徑、粒子和介質(zhì)的相對折射率決定。[1]

　　顆粒圖像儀

　　拍攝粒子照片后，可以對照片進行分析，測量粒子形態(tài)，從而進行現(xiàn)場實時在線測量。

　　粒子圖像計有靜態(tài)和動態(tài)測試方法。

　　利用靜態(tài)改造的顯微鏡系統(tǒng)，可以在計算機屏幕上直觀地反映粒子樣品的圖像，并結(jié)合相關(guān)的計算機軟件計算粒子大小、形狀、總體分布等屬性，并將測試結(jié)果輸出到報告中。動態(tài)方式具有形態(tài)和粒度分布的雙重分析能力。通過重新配置新的循環(huán)分布式系統(tǒng)和軟件數(shù)據(jù)處理模塊，解決了靜態(tài)顆粒圖像儀繁瑣的樣品制作、樣品代表不良、粒子粘合等缺陷。

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